Knowledge Management System Of Institute of Semiconductors,CAS
| 在高低温工作条件下对光电器件进行测试的装置和方法 | |
提刘旺; 杨晓红 ; 韩 勤
| |
| 2010-08-12 | |
| 专利权人 | 中国科学院半导体研究所 |
| 公开日期 | 2010-03-31 ; 2010-08-12 |
| 授权国家 | 中国 |
| 专利类型 | 发明 |
| 摘要 | 本发明公开了一种在高低温工作条件下对光电器件进行测试的装置，该装置包括:一导温密封腔，用于容置待检测光电器件，具有一光窗口，用于被检测光电器件的光输出或光输入;一支架，该导温密封腔固定于该支架的顶端;一托架，设置于该支架的下端，可沿支架上下移动;一加热或冷却设备，固定于该托架上，随托架一起沿支架上下移动，用于对导温密封腔进行加热或冷却，实现高低温工作条件。本发明提供的在高低温工作条件下对光电器件进行测试的装置和方法，解决了在高低温工作条件下窄脉宽光发射器件和微光光电探测器件参数测试的短线电连接问题，既保证了规定高低温工作环境温度的准确和稳定，又解决了短连线信号输入输出要求、结霜短路和结霜挡光等问题，且结构简单，造价低廉，具有很高的应用价值。 |
| 申请日期 | 2008-09-27 |
| 语种 | 中文 |
| 专利状态 | 实质审查的生效 |
| 申请号 | CN200810223612.1 |
| 专利代理人 | 周国城:中科专利商标代理有限责任公司 |
| 文献类型 | 专利 |
| 条目标识符 | http://ir.semi.ac.cn/handle/172111/13340 |
| 专题 | 中国科学院半导体研究所（2009年前） |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | 提刘旺,杨晓红,韩 勤. 在高低温工作条件下对光电器件进行测试的装置和方法[P]. 2010-08-12. |
| 条目包含的文件 | ||||||
| 文件名称/大小 | 文献类型 | 版本类型 | 开放类型 | 使用许可 | ||
| 3536.pdf（454KB） | 限制开放 | -- | 请求全文 | |||
| 个性服务 |
| 推荐该条目 |
| 保存到收藏夹 |
| 查看访问统计 |
| 导出为Endnote文件 |
| 谷歌学术 |
| 谷歌学术中相似的文章 |
| [提刘旺]的文章 |
| [杨晓红]的文章 |
| [韩 勤]的文章 |
| 百度学术 |
| 百度学术中相似的文章 |
| [提刘旺]的文章 |
| [杨晓红]的文章 |
| [韩 勤]的文章 |
| 必应学术 |
| 必应学术中相似的文章 |
| [提刘旺]的文章 |
| [杨晓红]的文章 |
| [韩 勤]的文章 |
| 相关权益政策 |
| 暂无数据 |
| 收藏/分享 |
除非特别说明，本系统中所有内容都受版权保护，并保留所有权利。
修改评论