Knowledge Management System Of Institute of Semiconductors,CAS
| 一种多功能反射式磁光光谱测量系统 | |
朱科; 朱汇 ; 刘剑; 章昊; 徐萍; 李桂荣; 郑厚植
| |
| 专利权人 | 中国科学院半导体研究所 |
| 公开日期 | 2011-08-30 |
| 授权国家 | 中国 |
| 专利类型 | 发明 |
| 摘要 | 本发明公开了一种多功能反射式磁光光谱测量系统，使用超连续白光光源、光栅单色仪、若干偏振镜片、光弹调制器、宽带1/4与1/2波片、消偏振分光棱镜(NPBS)、单端与差分探测器以及OXFORD低温超导磁体系统，组成结构灵活可变的光谱探测系统，可以在同一光路上实现反射式磁圆二向色性(MCD)、极向磁光克尔效应、偏振反射光谱以及磁线二向色性(MLD)的测量。该系统灵敏度高，可用于基础物理研究、材料特性分析和偏振调制光通信等诸多领域。 |
| 部门归属 | 半导体超晶格国家重点实验室 |
| 专利号 | CN201010143096.9 |
| 语种 | 中文 |
| 专利状态 | 公开 |
| 申请号 | CN201010143096.9 |
| 专利代理人 | 周国城 |
| 文献类型 | 专利 |
| 条目标识符 | http://ir.semi.ac.cn/handle/172111/21835 |
| 专题 | 半导体超晶格国家重点实验室 |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | 朱科,朱汇,刘剑,等. 一种多功能反射式磁光光谱测量系统. CN201010143096.9. |
| 条目包含的文件 | ||||||
| 文件名称/大小 | 文献类型 | 版本类型 | 开放类型 | 使用许可 | ||
| CN201010143096.9.pdf（717KB） | 限制开放 | -- | 请求全文 | |||
| 个性服务 |
| 推荐该条目 |
| 保存到收藏夹 |
| 查看访问统计 |
| 导出为Endnote文件 |
| 谷歌学术 |
| 谷歌学术中相似的文章 |
| [朱科]的文章 |
| [朱汇]的文章 |
| [刘剑]的文章 |
| 百度学术 |
| 百度学术中相似的文章 |
| [朱科]的文章 |
| [朱汇]的文章 |
| [刘剑]的文章 |
| 必应学术 |
| 必应学术中相似的文章 |
| [朱科]的文章 |
| [朱汇]的文章 |
| [刘剑]的文章 |
| 相关权益政策 |
| 暂无数据 |
| 收藏/分享 |
除非特别说明，本系统中所有内容都受版权保护，并保留所有权利。
修改评论