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垂直相变存储器的制备方法
张加勇; 王晓峰; 马慧莉; 程凯芳; 王晓东; 杨富华
专利权人中国科学院半导体研究所
公开日期2011-08-31
授权国家中国
专利类型发明
摘要一种垂直相变存储器的制备方法,包括如下步骤:步骤1:在衬底上生长第一金属层作为底部电极;步骤2:在第一金属层上淀积第一绝缘材料层;步骤3:采用微纳加工技术将该第一绝缘材料层制作成纳米尺寸的绝缘柱体;步骤4:在第一金属层上和绝缘柱体的表面淀积第二金属层作为加热电极;步骤5:在第二金属层上淀积第二绝缘材料层;步骤6:用化学机械抛光的方法抛光表面,同时切断绝缘柱体顶部的第二金属层的连接,形成环形的加热电极;步骤7:最后淀积相变材料和顶部电极,引出电极即可形成垂直相变存储器。
部门归属半导体集成技术工程研究中心
专利号CN201010113827.5
语种中文
专利状态公开
申请号CN201010113827.5
专利代理人汤保平
文献类型专利
条目标识符http://ir.semi.ac.cn/handle/172111/22373
专题半导体集成技术工程研究中心
推荐引用方式
GB/T 7714
张加勇,王晓峰,马慧莉,等. 垂直相变存储器的制备方法. CN201010113827.5.
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