| 垂直相变存储器的制备方法 |
| 张加勇; 王晓峰; 马慧莉; 程凯芳; 王晓东; 杨富华
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专利权人 | 中国科学院半导体研究所
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公开日期 | 2011-08-31
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授权国家 | 中国
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专利类型 | 发明
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摘要 | 一种垂直相变存储器的制备方法,包括如下步骤:步骤1:在衬底上生长第一金属层作为底部电极;步骤2:在第一金属层上淀积第一绝缘材料层;步骤3:采用微纳加工技术将该第一绝缘材料层制作成纳米尺寸的绝缘柱体;步骤4:在第一金属层上和绝缘柱体的表面淀积第二金属层作为加热电极;步骤5:在第二金属层上淀积第二绝缘材料层;步骤6:用化学机械抛光的方法抛光表面,同时切断绝缘柱体顶部的第二金属层的连接,形成环形的加热电极;步骤7:最后淀积相变材料和顶部电极,引出电极即可形成垂直相变存储器。 |
部门归属 | 半导体集成技术工程研究中心
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专利号 | CN201010113827.5
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语种 | 中文
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专利状态 | 公开
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申请号 | CN201010113827.5
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专利代理人 | 汤保平
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文献类型 | 专利
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条目标识符 | http://ir.semi.ac.cn/handle/172111/22373
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专题 | 半导体集成技术工程研究中心
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推荐引用方式 GB/T 7714 |
张加勇,王晓峰,马慧莉,等. 垂直相变存储器的制备方法. CN201010113827.5.
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