SEMI OpenIR  > 半导体超晶格国家重点实验室
一种用于测量低波数拉曼信号的装置; 一种用于测量低波数拉曼信号的装置
谭平恒; 韩文鹏; 厉巧巧
专利权人中国科学院半导体研究所
公开日期2012-08-29 ; 2012-05-09 ; 2012-08-29
授权国家中国
专利类型发明
摘要 本发明公开了一种用于测量低波数拉曼信号的装置,包括:激发光源;体光栅带通滤光片,用于过滤掉激光的等离子线而纯化激光线;第一体光栅陷波滤光片,位于体光栅带通滤光片将激光反射后的光路上;显微物镜,用于将由第一体光栅陷波滤光片反射来的激光聚焦到样品上来激发拉曼光谱信号;第二体光栅陷波滤光片和第三体光栅陷波滤光片,位于样品拉曼信号光经显微物镜收集并穿过体光栅陷波滤光片之后的光路上;三个支撑底座;聚焦透镜,用于将由第三体光栅陷波滤光片透过来的拉曼信号汇聚入单光栅光谱仪的入口;以及单光栅光谱仪,用于收集拉曼信号。本发明可以用来探测小至5波数的拉曼光谱信号,将在研究材料的低频拉曼光谱方面发挥重要作用。
部门归属半导体超晶格国家重点实验室
申请日期2011-09-22
专利号CN102445273A
语种中文
专利状态公开
申请号 CN201110283004.1
文献类型专利
条目标识符http://ir.semi.ac.cn/handle/172111/23320
专题半导体超晶格国家重点实验室
推荐引用方式
GB/T 7714
谭平恒,韩文鹏,厉巧巧. 一种用于测量低波数拉曼信号的装置, 一种用于测量低波数拉曼信号的装置. CN102445273A.
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