| 自动卡持测序芯片的安装座; 自动卡持测序芯片的安装座; 自动卡持测序芯片的安装座; 自动卡持测序芯片的安装座; 自动卡持测序芯片的安装座; 自动卡持测序芯片的安装座; 自动卡持测序芯片的安装座; 自动卡持测序芯片的安装座 |
| 任鲁风; 王绪敏; 李运涛; 周晓光; 袁丽娜; 冯玉臣; 秦奕; 韩伟静; 谷岚; 滕明静; 俞育德; 于军
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专利权人 | 中国科学院北京基因组研究所
; 中国科学院半导体研究所
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公开日期 | 2012-10-03
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授权国家 | 中国
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专利类型 | 发明
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学科领域 | 光电子学
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申请日期 | 2012-05-24
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语种 | 中文
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申请号 | CN201210165663.X
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文献类型 | 专利
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条目标识符 | http://ir.semi.ac.cn/handle/172111/24779
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专题 | 光电子研究发展中心
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推荐引用方式 GB/T 7714 |
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