降低衬底表面残留杂质浓度的方法 | |
刘京明; 赵有文; 王凤华; 杨凤云 | |
专利权人 | 中国科学院 |
公开日期 | 2013-04-03 ; 2013-04-03 |
授权国家 | 中国 |
专利类型 | 发明 |
学科领域 | 半导体材料 |
申请日期 | 2012-12-21 |
申请号 | CN201210564716.5 |
文献类型 | 专利 |
条目标识符 | http://ir.semi.ac.cn/handle/172111/25172 |
专题 | 中科院半导体材料科学重点实验室 |
推荐引用方式 GB/T 7714 | 刘京明,赵有文,王凤华,等. 降低衬底表面残留杂质浓度的方法. |
条目包含的文件 | ||||||
文件名称/大小 | 文献类型 | 版本类型 | 开放类型 | 使用许可 | ||
降低衬底表面残留杂质浓度的方法.pdf(553KB) | 限制开放 | 使用许可 | 请求全文 |
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