Knowledge Management System Of Institute of Semiconductors,CAS
| 在非透明衬底上生长的磁性薄膜的透射MCD光谱的测量方法 | |
| 贺振鑫; 刘奇; 吴元军; 纪晓晨 | |
| 专利权人 | 中国科学院半导体研究所 |
| 公开日期 | 2014-05-21 |
| 授权国家 | 中国 |
| 专利类型 | 发明 |
| 学科领域 | 半导体物理 |
| 申请日期 | 2014-02-28 |
| 申请号 | CN201410072762.2 |
| 文献类型 | 专利 |
| 条目标识符 | http://ir.semi.ac.cn/handle/172111/25726 |
| 专题 | 半导体超晶格国家重点实验室 |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | 贺振鑫,刘奇,吴元军,等. 在非透明衬底上生长的磁性薄膜的透射MCD光谱的测量方法. |
| 条目包含的文件 | ||||||
| 文件名称/大小 | 文献类型 | 版本类型 | 开放类型 | 使用许可 | ||
| 在非透明衬底上生长的磁性薄膜的透射MCD（768KB） | 限制开放 | 使用许可 | 请求全文 | |||
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