SEMI OpenIR  > 光电系统实验室
一种具有测距功能的被动成像系统及其测距方法
孔庆善; 崔伟; 王新伟; 周燕; 刘育梁
专利权人中国科学院半导体研究所
公开日期2014-04-30
授权国家中国
专利类型发明
学科领域光电子学
申请日期2014-01-27
申请号CN201410040445.2
文献类型专利
条目标识符http://ir.semi.ac.cn/handle/172111/25808
专题光电系统实验室
推荐引用方式
GB/T 7714
孔庆善,崔伟,王新伟,等. 一种具有测距功能的被动成像系统及其测距方法.
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