光纤干涉仪多参数的综合测量系统 | |
徐团伟; 方高升; 李芳; 刘育梁 | |
专利权人 | 中国科学院半导体研究所 |
公开日期 | 2014-04-30 |
授权国家 | 中国 |
专利类型 | 发明 |
学科领域 | 光电子学 |
申请日期 | 2014-01-23 |
申请号 | CN201410032166.1 |
文献类型 | 专利 |
条目标识符 | http://ir.semi.ac.cn/handle/172111/25863 |
专题 | 光电系统实验室 |
推荐引用方式 GB/T 7714 | 徐团伟,方高升,李芳,等. 光纤干涉仪多参数的综合测量系统. |
条目包含的文件 | ||||||
文件名称/大小 | 文献类型 | 版本类型 | 开放类型 | 使用许可 | ||
光纤干涉仪多参数的综合测量系统.pdf(444KB) | 限制开放 | 使用许可 | 请求全文 |
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