SEMI OpenIR  > 光电子器件国家工程中心
一种激光二极管测试老化夹具
仲莉; 于远斌; 李全宁; 罗泓; 王翠鸾; 李伟; 刘素平; 马骁宇
专利权人中国科学院半导体所
公开日期2016-09-02
授权国家中国
专利类型发明
学科领域半导体器件
申请日期2014-08-26
申请号CN201410426177.8
文献类型专利
条目标识符http://ir.semi.ac.cn/handle/172111/27336
专题光电子器件国家工程中心
推荐引用方式
GB/T 7714
仲莉,于远斌,李全宁,等. 一种激光二极管测试老化夹具.
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一种激光二极管测试老化夹具.pdf(737KB) 限制开放使用许可请求全文
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