Knowledge Management System Of Institute of Semiconductors,CAS
| 单光路量子效率测试系统 | |
| 刘 磊; 陈诺夫; 曾湘波; 张 汉; 吴金良; 高福宝 | |
| 2009-04-01 | |
| 专利权人 | 中科院半导体研究所 |
| 公开日期 | 3990 |
| 授权国家 | 中国 |
| 专利类型 | 发明 |
| 申请日期 | 2007-09-26 |
| 语种 | 中文 |
| 专利状态 | 公开 |
| 申请号 | CN200610171658 |
| 专利代理人 | 汤宝平 |
| 文献类型 | 专利 |
| 条目标识符 | http://ir.semi.ac.cn/handle/172111/9182 |
| 专题 | 中国科学院半导体研究所（2009年前） |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | 刘 磊,陈诺夫,曾湘波,等. 单光路量子效率测试系统[P]. 2009-04-01. |
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