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| 对原位表面磁光克尔效应进行测量的系统及方法 专利 专利类型: 发明, 申请日期: 2010-08-12, 公开日期: 2010-03-31, 2010-08-12 发明人: 赵建华; 姬 扬; 郑厚植; 杨 威; 鲁 军
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| 适用于激光共聚焦测量装置的光学窗口片 专利 专利类型: 实用新型, 申请日期: 2010-08-12, 公开日期: 2010-01-13, 2010-08-12 发明人: 杨晋玲; 周美强; 周 威; 唐龙娟; 朱银芳; 杨富华
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| 无权访问的条目 期刊论文 作者: 杨威; 罗海辉; 钱轩 ; 姬扬
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| 微机电系统薄膜材料力学性能与可靠性测试方法和装置 专利 专利类型: 发明, 申请日期: 2009-09-02, 公开日期: 4005 发明人: 杨晋玲; 周 威; 杨富华
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| 无权访问的条目 期刊论文 作者: 杨威; 姬扬; 罗海辉; 阮学忠; 王玮竹; 赵建华
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| 稀磁半导体(Ga,Mn)As和铁磁金属-半导体异质结Fe/GaAs铁磁相变过程的研究 学位论文 , 北京: 中国科学院半导体研究所, 2008 作者: 杨威
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| 适用于激光共聚焦测量装置的光学窗口片 专利 专利类型: 实用新型, 专利号: CN200920106986.5, 公开日期: 2011-08-31 发明人: 杨晋玲; 周美强; 周 威; 唐龙娟; 朱银芳; 杨富华
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| 微机电系统机械组元可靠性评估的测试装置及方法 专利 专利类型: 发明, 专利号: CN200910078562.7, 公开日期: 2011-08-31 发明人: 杨晋玲; 周威; 周美强; 朱银芳; 杨富华
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| 基于谐振原理工作的MEMS滤波器模块 专利 专利类型: 发明, 专利号: CN201010534603.1, 公开日期: 2011-08-31 发明人: 宁瑾 ; 李永梅; 韩国威; 杨富华
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| 基于差分方法的MEMS器件信号检测电路 专利 专利类型: 发明, 专利号: CN201010564525.X, 公开日期: 2011-08-31, 2011-08-31, 2011-08-31 发明人: 韩国威; 宁瑾; 孙国胜; 赵永梅; 杨富华
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