| PZT调制系数测试装置及测试方法 | |
| 方高升; 徐团伟; 李芳 | |
| 专利权人 | 中国科学院半导体研究所 |
| 公开日期 | 2013-10-09 |
| 授权国家 | 中国 |
| 专利类型 | 发明 |
| 学科领域 | 光电子学 |
| 申请日期 | 2013-06-26 |
| 申请号 | CN201310257844.X |
| 文献类型 | 专利 |
| 条目标识符 | http://ir.semi.ac.cn/handle/172111/25565 |
| 专题 | 光电系统实验室 |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | 方高升,徐团伟,李芳. PZT调制系数测试装置及测试方法. |
| 条目包含的文件 | ||||||
| 文件名称/大小 | 文献类型 | 版本类型 | 开放类型 | 使用许可 | ||
| PZT调制系数测试装置及测试方法.pdf（399KB） | 限制开放 | 使用许可 | 请求全文 | |||
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